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激光測(cè)量設(shè)備

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡(jiǎn)便地、高速地在大范圍區(qū)域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

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激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測(cè)
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測(cè)是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個(gè)手持式，耐用和輕便的機(jī)殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測(cè)了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計(jì)。FFP 的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準(zhǔn)直光學(xué)器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對(duì)準(zhǔn)、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設(shè)計(jì)到 OEM 系統(tǒng)中，因?yàn)樗麄冎浪鼘⑻峁┓浅＝咏碚摂?shù)學(xué)模型的結(jié)果。

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皮米級(jí)絕對(duì)距離測(cè)量干涉儀
皮米級(jí)絕對(duì)距離測(cè)量干涉儀通過將可調(diào)激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測(cè)量轉(zhuǎn)換為頻率變化的測(cè)量。當(dāng)F-P腔長(zhǎng)在變化時(shí)，其諧振峰的頻率也在發(fā)生變化，通過測(cè)量初始腔長(zhǎng)，初始頻率和頻率變化，就可實(shí)現(xiàn)測(cè)量腔長(zhǎng)。

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多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀同時(shí)可提供媲美Fizeau干涉儀測(cè)量精度，及動(dòng)態(tài)干涉儀的抗震性能。

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測(cè)量窄帶太赫茲輻射的波長(zhǎng)和強(qiáng)度分布，同時(shí)也可用于脈沖和連續(xù)窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個(gè)半透明平行硅鏡組成，其中一個(gè)安裝在電機(jī)驅(qū)動(dòng)的線性致動(dòng)器上。

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KALEO多波長(zhǎng)激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長(zhǎng)激光干涉儀模塊是用于光學(xué)計(jì)量的模塊化系統(tǒng)。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個(gè)經(jīng)濟(jì)有效，體積緊湊且易于使用的完整光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。

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點(diǎn)衍射激光干涉儀
點(diǎn)衍射激光干涉儀: 絕對(duì)測(cè)量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復(fù)精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測(cè)量?jī)xquDIS是對(duì)納米級(jí)別的位移波動(dòng)進(jìn)行量測(cè)的理想儀器，基于其*的測(cè)量原理，相對(duì)距離的重復(fù)精度達(dá)到了50皮米。quDIS可同時(shí)支持三個(gè)測(cè)量通道，使其可以適用于任意的多軸測(cè)量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準(zhǔn)參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。白光干涉儀

型號(hào)：Xper WLI 廠商性質(zhì)：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個(gè)臂上增加一個(gè)移動(dòng)反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和對(duì)準(zhǔn)的特點(diǎn)，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應(yīng)用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號(hào)：干涉儀. 廠商性質(zhì)：代理商
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高精度位移測(cè)量?jī)x-激光干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測(cè)量?jī)x產(chǎn)品是基于激光干涉方法設(shè)計(jì)的非接觸式位移和振動(dòng)測(cè)量設(shè)備。因?yàn)椴恍枰锢斫佑|，所以測(cè)量不會(huì)影響物體。這尤其適用于較小的物體，它們的動(dòng)力學(xué)很容易受到傳統(tǒng)測(cè)量探頭的影響。微位移測(cè)量?jī)x廣泛應(yīng)用于定位技術(shù)中，可以在pm分辨率下位移跟蹤定位。高精度位移測(cè)量?jī)x-激光干涉儀

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